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CIT6000-25射頻傳導(dǎo)抗擾度測試設(shè)備，采用一體化設(shè)計，內(nèi)置信號發(fā)生器、射頻功率放大器以及射頻功率計。設(shè)備支持外置功率放大器，具備更強(qiáng)的系統(tǒng)擴(kuò)展性。CIT6000-25內(nèi)置工控機(jī)，搭配專用射頻傳導(dǎo)抗擾度測試軟件，可進(jìn)行全自動校準(zhǔn)和測試，極大提高系統(tǒng)可擴(kuò)展性及測試效率，支持用戶自行查看、保存、打印測試結(jié)果。
射頻傳導(dǎo)抗擾度測試的基本原理是模擬實際使用環(huán)境中可能遇到的射頻干擾，通過射頻干擾源產(chǎn)生的干擾信號，經(jīng)過傳輸線引入到被測試設(shè)備的輸入端，觀察被測試設(shè)備在受到干擾后的性能表現(xiàn)。測試過程中，需要對被測試設(shè)備的各項性能指標(biāo)進(jìn)行監(jiān)測，以判斷其是否滿足相關(guān)的電磁兼容性標(biāo)準(zhǔn)要求。符合標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 17626.6 《電磁兼容 射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度測試》 、GB/T 17626.6 lectromagnetic compatibility - Conducted disturbance immunity test for radio frequency field induction
低頻傳導(dǎo)抗擾度（差模電流）測試設(shè)備用于驗證電子設(shè)備對低頻差模干擾的耐受能力。差模電流通過電源線或信號線回路形成干擾，常見于電機(jī)啟停、開關(guān)電源等場景，易引發(fā)設(shè)備誤動作或性能劣化。該設(shè)備模擬50Hz-150kHz頻段干擾，可精準(zhǔn)注入差模電流信號，檢測設(shè)備供電端口的抗干擾性能。
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